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使用高维变量选择模型确定关键参数

摘要

高维变量选择单元从来自例如半导体检验工具或其它类型的半导体制造工具等半导体制造工具的传感器数据及参数工具测量值确定关键参数列表。举例来说,高维变量选择模型可为弹性网、前向逐阶段回归或最小角回归。所述关键参数列表可用于设计下一代半导体制造工具,用于使所述半导体制造工具返回到正常状态,用于使半导体制造工具的结果与另一半导体制造工具的结果相匹配,或用于开发所述半导体制造工具的规范。

著录项

  • 公开/公告号CN107408522B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 科磊股份有限公司;

    申请/专利号CN201580065268.6

  • 发明设计人 常炜;J·古铁雷斯;K·拉奥;

    申请日2015-12-02

  • 分类号H01L21/67(20060101);G06N7/00(20060101);

  • 代理机构11287 北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人张世俊

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 11:26:49

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