光镊系统微粒轴向纳米级位移测量方法

摘要

本发明涉及一种光镊系统微粒轴向纳米级位移测量方法，包括下列步骤：在光镊系统的成像光路探测端放置CMOS相机，运行光镊系统；固定待测微粒；测量标定；测量参数设定及优化；对于实时微粒的图像，按照以上优化好的图像处理参数得到实时的平方梯度值；将平方梯度值代入拟合关系式中，最终得微粒的实时轴向位置。