公开/公告号CN104515962B
专利类型发明专利
公开/公告日2020-12-08
原文格式PDF
申请/专利权人 克洛纳有限公司;
申请/专利号CN201410410804.9
申请日2014-08-20
分类号G01R33/38(20060101);H01F7/00(20060101);
代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;
代理人陈浩然;傅永霄
地址 瑞士.巴塞尔
入库时间 2022-08-23 11:24:27
机译: 具有在硅晶片表面上形成的预定膜厚度的层的膜厚度分布的均匀化处理方法和用于使硅晶片的厚度分布均匀化的处理方法
机译: 用于使来自背光系统的光均匀化的漫射结构,该漫射结构具有沉积在玻璃基板的内表面上的漫射层,其厚度在3至20微米之间并且具有可变的覆盖密度以使光均匀化
机译: 用于产生患者的颌骨区域的磁共振图像的磁共振成像系统的射频接收器的口腔线圈,具有用于使静磁场均匀化的垫片元件