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一种光场图像配准方法及系统

摘要

本发明公开了一种光场图像配准方法及系统。该方法包括:获取左目标光场图像和右目标光场图像;分别确定左目标光场图像的多个矩形检测区域和右目标光场图像的多个检测区域;从左目标光场图像的每个检测区域中提取第一特征点,构成第一特征点集;从右目标光场图像的每个检测区域中提取第二特征点,构成第二特征点集;利用暴力算法对第一特征点集中的特征点与第二特征点集中的特征点进行匹配,得到多个匹配点对;确定各个匹配点对中特征点的坐标;依据坐标,计算单应矩阵;依据单应矩阵,得到左目标光场图像和右目标光场图像配准后的图像。本发明能够提高重叠区域较小的两幅光场图像进行配准的配准精度,还可以降低时间消耗。

著录项

  • 公开/公告号CN108376409B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 首都师范大学;

    申请/专利号CN201810156779.4

  • 申请日2018-02-24

  • 分类号G06T7/33(20170101);G06T7/12(20170101);G06T7/136(20170101);G06T7/13(20170101);G06T7/66(20170101);

  • 代理机构11569 北京高沃律师事务所;

  • 代理人王戈

  • 地址 100000 北京市海淀区西三环北路105号

  • 入库时间 2022-08-23 11:23:38

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