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一种基于MEMS扫描振镜的线结构光三维测量方法

摘要

本发明属于机器人视觉三维测量技术领域,并公开了一种基于MEMS扫描振镜的线结构光三维测量方法。该方法包括下列步骤:(a)设定MEMS扫描振镜的扫描范围,光点之间的间隔角度;(b)采用二维棋盘标靶标定激光发射点A到每个光点的连线形成的光线方程;(c)MEMS扫描振镜扫描待测物体,建立图像上的点与光点之间的对应关系;(d)计算直线图像上的任意点P与相机光心B连线形成的直线PB与光线AO的交点,该交点坐标即为所需的光点O坐标,以此方式获得待测物体表面所有光点的坐标,即实现待测物体的三维测量。通过本发明,消除线结构光在测量混合反射表面时由于光条过曝而导致光条中心提取不准的影响提高三维测量精度。

著录项

  • 公开/公告号CN110702007B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN201911048657.4

  • 发明设计人 李晨;张旭;赵欢;丁汉;

    申请日2019-10-31

  • 分类号G01B11/00(20060101);

  • 代理机构42201 华中科技大学专利中心;

  • 代理人李智

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2022-08-23 11:22:56

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