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一种单颗粒物偏振光学性质和光学粒径谱测量系统

摘要

本发明公开了一种单颗粒物偏振光学性质和光学粒径谱测量系统,包括主测量模块、入射光准直模块、第一散射光强探测模块、第二散射光强探测模块和偏振光信号探测模块;主测量模块内部设置有球形的主测量腔;入射光准直模块与第二散射光强探测模块相对设置;第一散射光强探测模块和偏振光信号探测模块相对设置;入射光准直模块、第一散射光强探测模块、第二散射光强探测模块和偏振光信号探测模块内部分别设置有与主测量腔连通的准直腔、第一探测腔、第二探测腔和偏振探测腔。优点是:通过在测量系统内合理设置准直透镜和聚光透镜的组合,实现有效探测环境颗粒物光学性质的目的,有效提高了大气污染物理化性质的探测水平。

著录项

  • 公开/公告号CN110849817B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院大气物理研究所;

    申请/专利号CN201911008837.X

  • 发明设计人 潘小乐;田雨;王自发;

    申请日2019-10-21

  • 分类号G01N21/21(20060101);G01N21/53(20060101);G01N21/05(20060101);G01N15/02(20060101);G01N21/03(20060101);

  • 代理机构11337 北京市盛峰律师事务所;

  • 代理人于国强

  • 地址 100029 北京市朝阳区德胜门外祁家豁子华严里40号楼

  • 入库时间 2022-08-23 11:22:55

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