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一种多维调控电离条件的原位电离分析装置及分析方法

摘要

本发明提出了一种多维调控电离条件的原位电离分析装置及分析方法,包括电离质谱平台(1)、第一可调节电离条件控制接口(2)、第二可调节电离条件控制接口(3)、第三可调节电离条件控制接口(4)和第四可调节电离条件控制接口(5)。本发明采用多维调控电离条件实现对极性弱、热不稳定、复杂基质样品的分析,提高待测样品的电离效率、灵敏度,大大缩短了分析时间。

著录项

  • 公开/公告号CN108241018B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201810069644.4

  • 发明设计人 赵宗山;田永;刘欢;刘爱风;高威;

    申请日2018-01-24

  • 分类号G01N27/62(20060101);

  • 代理机构23211 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司;

  • 代理人孙莉莉

  • 地址 266101 山东省青岛市崂山区松岭路189号

  • 入库时间 2022-08-23 11:20:44

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