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公开/公告号CN107515051B
专利类型发明专利
公开/公告日2020-11-03
原文格式PDF
申请/专利权人 武汉科技大学;
申请/专利号CN201710597100.0
发明设计人 谷庭龙;董锡杰;张茂;刘启航;胡飞翔;袁培程;袁洁;
申请日2017-07-20
分类号G01J9/00(20060101);
代理机构42104 武汉开元知识产权代理有限公司;
代理人樊戎
地址 430081 湖北省武汉市青山区和平大道947号武汉科技大学
入库时间 2022-08-23 11:20:03
机译: 波长选择方法,膜厚测量方法,膜厚测量装置以及制造基于硅的薄膜装置的系统
机译: 光谱仪,光谱系统,波长计算装置,光谱法,波长测量方法和波长计算方法
机译: 波长测量装置中的单色仪的波长校准方法,波长测量方法及波长测量装置
机译:2波长波长方向OTDR测量方法测量方法
机译:使用声光效应的集成光学多/解复用器,用于多波长光通信
机译:基于光纤的全Mueller旋光仪,用于两波长同时测量方法的内窥镜成像
机译:基于单长周期光栅的声光效应基于声光效应的光放大器自适应增益均衡
机译:基于自适应交通控制系统中基于停靠线检测的替代密度测量方法开发动脉基础图。
机译:基于激光超声的瑞利波尺寸尺寸子波长表面裂纹测量方法
机译:一种基于声光效应的波束形成系统
机译:基于阵列的多波长荧光系统设计。