采用颗粒微小位移测量装置测量细微颗粒产生位移的方法

摘要

本发明提供了一种采用颗粒微小位移测量装置测量细微颗粒产生位移的方法，激光器发射出的激光通过中间有小孔的第一反射镜，再透过斜槽表面聚焦在颗粒物质上，被激光束照射的样品颗粒产生的散射光入射分束器后，一分为二产生两束激光，一束光被光学分束器反射后入射到上方的第二反射镜后反射回分束器，之后透射过分束器由透镜聚焦被CCD相机接收；另一束光透射过分束器后入射到右侧的第三反射镜，之后反射回分束器后再次被反射，经过透镜聚焦到CCD相机上。CCD相机通过图像卡记录产生的激光散斑图，并传送到计算机进行相关数值计算处理。本发明解决了原有测量装置和方法无法测量颗粒位移的问题；可测量直径在1mm‑1.5mm之间的细微颗粒运动产生的位移。