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一种使用X射线检测器测量X射线的强度分布的方法

摘要

本文公开使用X射线检测器测量X射线的强度分布的方法,该方法包括:确定X射线检测器上至少三个位点处的暗电流的值,其中这三个位点不在一条直线上;使用暗电流的值确定X射线的吸收率的空间变化;测量X射线的表观强度分布;通过从表观强度分布去除吸收率的空间变化的贡献来确定强度分布。

著录项

  • 公开/公告号CN108139493B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳帧观德芯科技有限公司;

    申请/专利号CN201580083565.3

  • 发明设计人 曹培炎;程华斌;

    申请日2015-10-14

  • 分类号G01T1/24(20060101);

  • 代理机构44372 深圳市六加知识产权代理有限公司;

  • 代理人罗水江

  • 地址 518071 广东省深圳市南山区桃源街道塘朗社区信宜五路13号塘朗工业B区集悦城众创产业园52栋201

  • 入库时间 2022-08-23 11:19:07

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