首页> 中国专利> 检测光学系统任意波长透射波前的方法

检测光学系统任意波长透射波前的方法

摘要

本发明提供了两种检测光学系统任意波长透射波前的方法,一种是利用4种波长为λ1~λ4的激光干涉仪分别对复消色差光学系统进行检测,进而通过Zernike多项式拟合波长为λn的光学系统的透射波前;另一种是通过利用4种波长为λ1~λ4的检测装置分别对光学系统进行检测,进而通过离散点波前像差公式得到波长为λn的光学系统完整的透射波前。这两种方法均能够应用在单波长系统、消色差系统以及复消色差系统中,从而解决主要的透射式光学系统任意波长波前检测的问题。不仅使得特殊波长的激光干涉仪的检测范围变大,而且当需要检测一些特殊的光学系统时,也不需要使用造价昂贵的特殊波长的激光干涉仪进行检测,节约了检测成本。

著录项

  • 公开/公告号CN110307962B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苏州维纳仪器有限责任公司;

    申请/专利号CN201910573002.2

  • 申请日2019-06-28

  • 分类号G01M11/02(20060101);

  • 代理机构31204 上海德昭知识产权代理有限公司;

  • 代理人郁旦蓉

  • 地址 215123 江苏省苏州市苏州工业园区仁爱路150第二教学楼B109室

  • 入库时间 2022-08-23 11:18:56

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号