对超出[‑π,π]量程的相位进行补偿,得到真实相位
公开/公告号CN108632194B
专利类型发明专利
公开/公告日2020-10-20
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;中国科学院大学;
申请/专利号CN201810268806.7
申请日2018-03-28
分类号H04L27/26(20060101);H04L27/34(20060101);H04L27/36(20060101);H04B10/548(20130101);
代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;
代理人喻颖
地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号
入库时间 2022-08-23 11:17:41
机译: 用于外差干涉测量测量的变频器和用于具有这种频率移位器的外差干涉测量测量的装置
机译: 该装置系统可以用于成像,以及一种方法,光谱编码外差干涉测量法
机译: 用于照亮被测物体的光学系统和用于测量被测物体表面的干涉系统