TFT阵列基板的缺陷检测方法

摘要

本发明提供一种TFT阵列基板的缺陷检测方法。本发明的TFT阵列基板的缺陷检测方法在获取TFT阵列基板的原始图像后对原始图像进行去噪处理产生去噪图像，对去噪图像进行规则结构纹理背景去除处理产生待判定图像，对所述待判定图像进行缺陷提取获取TFT阵列基板的缺陷的描述参数，利用TFT阵列基板的缺陷的描述参数及预设的参考描述参数判断TFT阵列基板的缺陷的类型，能够简单准确地对TFT阵列基板上的缺陷类型进行检测。