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一种基于PSD-LIR的粒子尺寸分布函数重建方法及设备

摘要

本发明公开了一种基于PSD‑LIR的粒子尺寸分布函数重建方法及设备,属于颗粒群尺度特征检测领域。根据粒子体积的矩量的定义取7个矩量Mk,k=0、1/3、2/3、1、4/3、5/3、2,对应于分布函数上的7个点,加上分布函数两端的零点,通过插值和最佳逼近法,反演出颗粒尺度的分布函数曲线;零阶矩量M0是在给定时间和地点内,粒子数浓度;1/3阶矩量M1/3与粒子群的平均直径成比例;2/3阶矩量M2/3与粒子的表面积成比例;1阶矩量M1与粒子的总体积成比例;4/3阶矩量M4/3与粒子沉降末速度成比例;5/3阶矩量M5/3与粒子的质量通量成比例;2阶矩量M2与粒子群的总散射光成比例。该方法及设备具有简单、快捷、高效的特点。

著录项

  • 公开/公告号CN109145252B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN201810871439.X

  • 发明设计人 谢明亮;

    申请日2018-08-02

  • 分类号G06F17/12(20060101);G06F17/16(20060101);

  • 代理机构42201 华中科技大学专利中心;

  • 代理人尚威;李智

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2022-08-23 11:13:05

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