单码道绝对式时栅角位移测量系统

摘要

本发明公开了一种单码道绝对式时栅角位移测量系统，包括发光元件、动盘基体、定盘基体、光电探测器和信号处理电路，动盘基体上设有N个全透光栅面和N+1个半透光栅面，定盘基体的圆周被均分为6个透光调制区，相邻两个透光调制区内各设有四个第一双余弦透光面和四个第二双余弦透光面，光电探测器包括6组光电测头；动盘基体相对定盘基体转动，6组光电测头输出的光电流信号合成6个电行波信号，对其中3个电行波信号的幅值进行编码，根据编码值选取相应的2个电行波信号比相，并转换得粗码值，所述2个电行波信号中的任意一个与参考信号比相，并转换得精码值，精码值加粗码值得到绝对角位移值。本发明能实现精密角位移的绝对式测量，降低编码难度。