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一种基于二维激光扫描仪的“V”型靶标及坐标测量方法

摘要

本发明公开了一种基于二维激光扫描仪的“V”型靶标及坐标测量方法,包括二维激光扫描仪、“V”型靶标、连接件、夹具、三脚架等。将二维激光扫描仪通过连接件与三脚架连接;将二维激光扫描仪通过以太网线或USB连接线与上位机连接;设计“V”型靶标并将“V”型靶标通过夹具、连接件与三脚架连接。通过二维激光扫描仪对测量范围内空间点进行测量,使用算法对空间点进行筛选,对“V”型靶标进行识别,利用“V”型靶标的形状特征,得到指定测量点的二维坐标。本发明具有测量场易于搭建、成本相对低廉、具有较大的测量范围、相对较高的测量精度等特点。可以在工业测量等领域得到应用。

著录项

  • 公开/公告号CN109341525B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学;

    申请/专利号CN201811209714.8

  • 发明设计人 张福民;张画迪;曲兴华;钱兴;

    申请日2018-10-17

  • 分类号G01B11/00(20060101);

  • 代理机构12201 天津市北洋有限责任专利代理事务所;

  • 代理人刘玥

  • 地址 300072 天津市南开区卫津路92号

  • 入库时间 2022-08-23 11:12:17

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