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基于STM32的多功能磁致伸缩位移测量仪及测量方法

摘要

本发明公开了一种基于STM32的多功能磁致伸缩位移测量仪及测量方法,包括波导丝、滑杆、多个磁环、阻尼器、检测线圈、测量仪电路;波导丝安装于滑杆内,磁环为磁伸材料提供恒定的耦合磁场,并可在滑杆上自由滑动;阻尼器用于吸收波导丝末端的弹性波,检测线圈实现对弹性波的信号拾取,即从物理量到电量的转换;测量仪电路包括激励脉冲产生模块、磁弹性波检测模块及时间测量与控制模块。本发明采用STM32进行控制和相应计算,结合硬件设施,可实现位置测量、位移测量、速度测量等功能且支持多种通讯方式,测量结果的多种输出方式使其在工业测量系统中兼容性较好,适用性较强。

著录项

  • 公开/公告号CN109357610B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京理工大学;

    申请/专利号CN201811005535.2

  • 申请日2018-08-30

  • 分类号G01B7/02(20060101);

  • 代理机构32203 南京理工大学专利中心;

  • 代理人陈鹏

  • 地址 210094 江苏省南京市孝陵卫200号

  • 入库时间 2022-08-23 11:11:16

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