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氧化锆双层全瓷修复体饰瓷内部缺陷的检测方法

摘要

本发明涉及牙科技术领域,公开了一种氧化锆双层全瓷修复体饰瓷内部缺陷的检测方法,包括以下步骤:(1)micro‑CT扫描:将氧化锆双层全瓷修复体进行micro‑CT扫描,得到扫描后的二维图像,并将二维图像转换为dicom数据;(2)三维建模:将步骤(1)中的dicom数据导入到处理软件中进行三维建模并分析,得到氧化锆双层全瓷修复体饰瓷内气孔缺陷的三维形貌,获得氧化锆双层全瓷修复体饰瓷内气孔缺陷的数据。本发明能够在不损坏氧化锆双层全瓷修复体的情况下,检测到氧化锆双层全瓷修复体饰瓷内的气孔缺陷,在修复体崩瓷的临床研究中起到了至关重要的作用。

著录项

  • 公开/公告号CN108802074B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 赵克;

    申请/专利号CN201810873510.8

  • 发明设计人 赵克;

    申请日2018-08-02

  • 分类号G01N23/046(20180101);

  • 代理机构50217 重庆强大凯创专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人岳兵

  • 地址 510055 广东省广州市越秀区陵园西路56号

  • 入库时间 2022-08-23 11:11:16

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