首页> 中国专利> 铁磁细长构件浅层损伤磁发射检测方法及磁发射检测系统

铁磁细长构件浅层损伤磁发射检测方法及磁发射检测系统

摘要

本发明属于材料检测技术领域,特别涉及一种对铁磁性细长构件(杆件、管道、钢丝绳等)浅层损伤无损检测方法及磁发射检测系统,可实现对铁磁性细长构件损伤的非接触扫描检测,特别涉及对杆件、管道的腐蚀坑、孔洞、磨损及裂纹及钢丝绳的表面及浅层断丝、磨损、锈蚀及结构形变等损伤的简便磁发射检测方法及磁发射检测系统。本发明克服目前磁性损伤检测中,检测系统结构复杂、数据处理过程繁琐,检测效果不理想等问题。

著录项

  • 公开/公告号CN107576720B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学深圳研究生院;

    申请/专利号CN201710662306.7

  • 发明设计人 张东来;潘世旻;张恩超;

    申请日2017-08-04

  • 分类号G01N27/82(20060101);

  • 代理机构44248 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙);

  • 代理人张立娟

  • 地址 518000 广东省深圳市南山区西丽镇深圳大学城哈工大校区

  • 入库时间 2022-08-23 11:11:13

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号