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一种C/C-Si复合材料表面生长辐射状纳米线及在常温下的制备方法

摘要

本发明涉及一种C/C‑Si复合材料表面生长辐射状纳米线及在常温下的制备方法,利用包埋法在真空加热炉中在碳/碳复合材料表面制备硅涂层,然后对C/C‑Si复合材料采用浓硫酸与双氧水混合溶液浸润后,将C/C‑Si复合材料表面放入单分散聚苯乙烯微球溶液中,经干燥后在喷金溅射仪中喷金。随后将C/C‑Si复合材料放入由去离子水,丙三醇,双氧水和氢氟酸按不同体积分数组成的混合溶液中刻蚀不同的时间。获得常温下在C/C‑Si复合材料表面辐射状生长的Si纳米线。本发明的纳米线是从C/C‑Si复合材料表面生长出来的辐射状纳米线,可以提高内涂层与外涂层之间的结合力,缓解热膨胀失配。可以减少碳/碳复合材料多次高温处理造成的力学性能下降,能够有效保护碳/碳复合材料。

著录项

  • 公开/公告号CN108585954B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西北工业大学;

    申请/专利号CN201810553797.6

  • 申请日2018-06-01

  • 分类号C04B41/89(20060101);

  • 代理机构61204 西北工业大学专利中心;

  • 代理人王鲜凯

  • 地址 710072 陕西省西安市友谊西路127号

  • 入库时间 2022-08-23 11:11:03

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