一种用于电路故障诊断的最优诊断树生成方法

摘要

本发明公开了一种用于电路故障诊断的最优诊断树生成方法，基于故障测试模型中得到的电子系统内部故障状态与电路中测点输出的关系，再构建动态规划列表搜索最优解；然后对动态规划列表中的故障集，筛选出有效测点，并根据有效测点扩大搜索深度，通过动态规划列表避免相同故障集的重复搜索，进而减小搜索次数，从而能够快速生成最优诊断树。