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一种基于受测试件周期振荡的等效滑移长度测量方法

摘要

本公开提供了一种基于受测试件周期振荡的等效滑移长度测量方法,包括:步骤S101:制备具有超疏水表面的受测试件,并将受测试件安装在等效滑移长度测量系统;步骤S102:设定等效滑移长度测量系统的参数,开启等效滑移长度测量系统;步骤S103:受测试件在自身平面内进行周期运动并带动流体产生Stokes层,测量Stokes层内的观测点的实际最大速度;步骤S104:由所述实际最大速度计算等效滑移长度。

著录项

  • 公开/公告号CN110455687B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-07-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京大学;

    申请/专利号CN201910836043.6

  • 发明设计人 段慧玲;李泽祥;刘晓超;吕鹏宇;

    申请日2019-09-04

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人李坤

  • 地址 100871 北京市海淀区颐和园路5号

  • 入库时间 2022-08-23 11:05:53

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-17

    授权

    授权

  • 2019-12-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N13/00 申请日:20190904

    实质审查的生效

  • 2019-11-15

    公开

    公开

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