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NAND闪存固态硬盘空间环境效应测试系统及试验方法

摘要

本发明根据系统性研究机理的需要,分析了试验可激发的空间环境效应及可行性,建立了NAND闪存固态硬盘空间环境效应试验方法,为系统性地研究固态硬盘的空间环境可靠性提供了切入点。本发明还公开了一套适用于热循环、热真空、空间辐照等典型空间环境效应的NAND闪存固态硬盘测试系统,实现了参数自动监测,数据采集、处理、图形化显示、存储、回放等功能,可监测批量固态硬盘SATA接口供电电压、电流、平均&实时读/写速率、平均读/写响应时间、写入数据量等性能参数,并可定期检查记录SSD的磁盘容量情况,还能调节工作频率,控制供电电压。

著录项

  • 公开/公告号CN109285583B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-07-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201811053571.6

  • 申请日2018-09-11

  • 分类号G11C29/56(20060101);

  • 代理机构11337 北京市盛峰律师事务所;

  • 代理人于国栋

  • 地址 100094 北京市海淀区邓庄南路9号

  • 入库时间 2022-08-23 11:05:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-17

    授权

    授权

  • 2019-03-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G11C29/56 申请日:20180911

    实质审查的生效

  • 2019-01-29

    公开

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