一种FPGA配置PROM的筛选检测方法

摘要

一种FPGA配置PROM的筛选检测方法，涉及一种FPGA配置PROM的筛选检测方法，解决现有PROM的筛选检测方法容易降低配置过程的信号完整性，配置过程易受干扰，同时易增加体积，不适合在结构紧凑的载荷中应用等问题，包括筛选检测系统，筛选检测系统包括PC机以及设置在高低温箱内的控制器和n组PROM电路；每组PROM电路包括电流检测电路、PROM的可调供电电源以及幅度和电平可调的驱动器；控制器分别与每组PROM电路的电流检测电路、PROM的可调供电电源、幅度和电平可调的驱动器连接；本发明提出在器件落焊前进行筛选检测的方法，通过改变环境温度、供电电压、控制信号电平和读出时钟频率，同时监测器件的工作电流，提前剔除性能差的器件，降低器件落焊的风险。