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半导体激光器热弛豫时间的测试装置及其测量方法

摘要

一种半导体激光器的热弛豫时间的测量装置及其测试方法,该装置的构成是:一脉冲电源,该脉冲电源的输出端接半导体激光器,沿该半导体激光器的激光前进方向依次是准直系统和光谱仪,光电倍增管位于所述的光谱仪的输出狭缝,光电倍增管的输出端接Boxcar积分器的输入端,所述的脉冲电源的同步输出端经过延时电路连接Boxcar积分器的触发输入端,计算机输入端数据采集卡连接Boxcar积分器输出端。本发明的优点是:不需测试激光器阈值电流和斜率效率随结温的变化关系;装置造价低,容易搭建,方法简单、稳定性好。

著录项

  • 公开/公告号CN100383541C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2008-04-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200510026554.X

  • 发明设计人 陈晨;辛国锋;方祖捷;

    申请日2005-06-08

  • 分类号G01R31/26(20060101);H01L21/66(20060101);

  • 代理机构31213 上海新天专利代理有限公司;

  • 代理人张泽纯

  • 地址 201800 上海市800-211邮政信箱

  • 入库时间 2022-08-23 09:00:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-08-05

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/26 授权公告日:20080423 终止日期:20140608 申请日:20050608

    专利权的终止

  • 2008-04-23

    授权

    授权

  • 2006-01-04

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-11-09

    公开

    公开

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