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半导体激光器热弛豫时间的测试装置

摘要

一种半导体激光器热弛豫时间的测试装置,该装置的构成是:一脉冲电源,该脉冲电源的输出端接半导体激光器,沿该半导体激光器的激光前进方向依次是准直系统和光谱仪,光电倍增管位于所述的光谱仪的输出狭缝,光电倍增管的输出端接Boxcar积分器的输入端,所述的脉冲电源的同步输出端经过延时电路连接Boxcar积分器的触发输入端,计算机输入端数据采集卡连接Boxcar积分器输出端。本实用新型的优点是:不需测试激光器阈值电流和斜率效率随结温的变化关系;装置造价低,容易搭建,方法简单、稳定性好。

著录项

  • 公开/公告号CN2828834Y

    专利类型

  • 公开/公告日2006-10-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200520042281.3

  • 发明设计人 陈晨;辛国锋;方祖捷;

    申请日2005-06-08

  • 分类号G01R31/26(20060101);H01L21/66(20060101);

  • 代理机构31213 上海新天专利代理有限公司;

  • 代理人张泽纯

  • 地址 201800 上海市800-211邮政信箱

  • 入库时间 2022-08-21 22:52:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2008-05-21

    其他有关事项(避免重复授权放弃专利权) 放弃生效日:20080423 申请日:20050608

    其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)

  • 2006-10-18

    授权

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