二分区间的数据压缩方法及集成电路的测试数据存储方法

摘要

本发明公开了一种二分区间的数据压缩方法，将若干个测试向量甚至整个测试集映射到区间(0，1)，再通过多次二分区间的方法找到该位置，存储该二分区间的规律即存储该若干个测试向量甚至整个测试集。本发明还公开了一种集成电路测试数据的存储方法。本发明相比现有技术具有以下优点：提高了测试效率，由于将若干个测试向量甚至整个测试集映射到区间(0，1)，再通过多次二分区间的方法找到该位置，存储该二分区间的规律即可存储该若干个测试向量甚至整个测试集，占用空间较小，并且运算简单，非常实用。