首页> 中国专利> 用于表征光子器件的方法及相关联设备

用于表征光子器件的方法及相关联设备

摘要

方法包括:接收光学输入信号(2);根据具有已知实值的分离系数(K)将来自该输入信号的中间信号分离成至少一个第一子信号(21)和第二子信号(22);将所述至少一个第一子信号(21)递送到至少一个第一光子电路(C1),该至少一个第一光子电路包含待表征的该至少一个光子器件(4)、以及第一光子部分(50);将所述第二子信号(22)递送到第二光子电路(C2),所述第二光子电路包含具有与所述第一光子部分相同传递函数的第二光子部分并且没有所述至少一个光子器件(4);将来自所述电路的输出信号转换成电信号;根据所述电信号并且根据该分离系数(K)的该已知实值来确定所述至少一个光子器件的损耗。

著录项

  • 公开/公告号CN107666350B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-06-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 意法半导体(克洛尔2)公司;

    申请/专利号CN201710109581.6

  • 发明设计人 P·勒迈特瑞;J-F·卡彭蒂尔;

    申请日2017-02-27

  • 分类号

  • 代理机构北京市金杜律师事务所;

  • 代理人王茂华

  • 地址 法国克洛尔

  • 入库时间 2022-08-23 11:03:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-30

    授权

    授权

  • 2018-03-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):H04B10/079 申请日:20170227

    实质审查的生效

  • 2018-02-06

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号