一种基于响应混叠性度量与遗传算法的测试激励优选方法

摘要

一种基于响应混叠性度量与遗传算法的测试激励优选方法，本发明涉及基于响应混叠性度量与遗传算法的测试激励优选方法。本发明为了解决现有模拟电路中，由于器件容差的存在使得器件故障状态和正常状态界限模糊，导致早期故障检测较低以及测试激励优选速度慢的问题。本发明包括：步骤一：得到M个正常样本和M个故障样本；步骤二：采用遗传算法对P个频点进行二进制编码，并进行参数初始化；步骤三：遗传算法采用响应混叠性度量函数作为适应度函数，计算NIND个频点的适应度函数值；步骤四：获取响应混叠性度量函数值最小的测试激励的二进制基因，通过解码后得到对应的最优测试激励。本发明用于模拟电路故障诊断领域。