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一种动态三维面形测量方法及系统

摘要

本发明公开一种动态三维面形测量方法及系统,包括:利用DLP投影设备依次向待测表面投射多幅条纹光栅,同时将DLP投影设备投射的条纹光栅每隔T/r进行连续移相,获取数字微镜器件DMD的掩膜,在每个曝光周期T内,根据DLP投影设备的移相,使DMD掩膜中具有相同编号的曝光元素同时曝光,不同编号的曝光元素依次曝光,得编码图像;根据曝光组中曝光元素的灰度分布特征,采用像素快速提取与插值算法,从编码图像中提取r幅光栅图像,采用相移法对光栅图像进行解相,得光栅图像的相位主值;根据相位主值,利用多频外差原理确定绝对相位;根据绝对相位,采用解码算法计算待测表面的三维面形。通过本发明上述方法实现动态三维面形测量,提高测量系统的时间分辨率。

著录项

  • 公开/公告号CN110411374B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-06-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 湖北工业大学;

    申请/专利号CN201910789296.2

  • 申请日2019-08-26

  • 分类号

  • 代理机构北京高沃律师事务所;

  • 代理人程江涛

  • 地址 430068 湖北省武汉市洪山区南李路28号

  • 入库时间 2022-08-23 11:00:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-02

    授权

    授权

  • 2019-11-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/24 申请日:20190826

    实质审查的生效

  • 2019-11-05

    公开

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