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成像光谱仪的像面检校装置

摘要

一种成像光谱仪的像面检校装置,适合于成像光谱仪装配及校准。其包括计算机以及依次成光路连接的物屏、平行光管、成像镜头、分光计和CCD面阵探测器,并还有成闭路控制的后接该CCD面阵探测器的步进扫描结构与设在该计算机上的检校处理模块。本发明直接利用光谱仪的面阵CCD探测部件,使用可程控平移台及专用的检校软件,高精度地检测出成像各波段的焦面位置,从而分析出面阵CCD探测器的放置位置及倾角,保证光谱仪成像波段总体分辨率最佳。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-10-28

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J 3/28 授权公告日:20080130 终止日期:20140909 申请日:20040909

    专利权的终止

  • 2008-01-30

    授权

    授权

  • 2005-05-04

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-03-02

    公开

    公开

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