海底原位X荧光测量影响监管方法及装置

摘要

本发明涉及一种海底原位X荧光测量影响监管方法及装置。所述方法包括：建立蒙特卡罗模型，通过蒙特卡罗模型模拟获得目标元素特征X射线在不含杂质且不同厚度铍窗下的透过率；根据该透过率并结合铍窗安全性理论分析结果确定铍窗的优选厚度；通过蒙特卡罗模型模拟分别获得铍窗厚度为所述优选厚度且含杂质，以及铍窗厚度为所述优选厚度且不含杂质时，目标元素特征X射线强度与目标元素含量的关系，并进行对比，得到对比结果；根据该对比结果判断铍窗含杂质时对目标元素特征X射线强度是否有影响，若有，则对铍窗含杂质时目标元素特征X射线强度进行校正。本发明实施例提供的海底原位X荧光测量影响监管方法，有效地提高了测量结果的准确度。