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半导体探测器及半导体探测器制备方法

摘要

本申请提供一种半导体探测器及半导体探测器制备方法,涉及探测器技术领域。该半导体探测器包括:半导体晶体、阴极和阳极;半导体晶体包括相对设置于半导体晶体两侧的第一面和第二面;阴极设于半导体晶体的第一面;阳极设于半导体晶体的第二面;阳极包括:收集电极和权重栅电极,权重栅电极围绕收集电极布设;其中,收集电极和/或权重栅电极为三维复合结构电极。使用该半导体探测器能够大幅度提升半导体晶体内部载流子的收集效率。

著录项

  • 公开/公告号CN109298438B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-05-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 重庆邮电大学;

    申请/专利号CN201811165515.1

  • 申请日2018-09-30

  • 分类号G01T1/36(20060101);G01T1/24(20060101);

  • 代理机构11371 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人邓超

  • 地址 400000 重庆市南岸区南山街道崇文路2号

  • 入库时间 2022-08-23 10:59:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-19

    授权

    授权

  • 2019-03-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01T1/36 申请日:20180930

    实质审查的生效

  • 2019-02-01

    公开

    公开

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