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一种基于振铃电流时频域特征的二极管寄生参数提取方法

摘要

一种基于振铃电流时频域特征的二极管寄生参数提取方法,包括构建开关电源电路,获取二极管在开关信号作用下的振铃电流;建立振铃电流的时域表现数学模型和频域表现数学模型,获取时域表现数学模型和频域表现数学模型的参数与二极管的寄生电阻、寄生电容和寄生电感的关系;根据振铃电流的时域表现数学模型及实际电路中的时域测试结果,计算获得二极管的寄生电阻;基于振铃电流的频域表现数学模型及实际电路中的频域测试结果,对频域表现数学模型进行参数拟合,并结合寄生电阻,计算获得二极管的寄生电容和电感等步骤,该方法能够克服现有二极管寄生参数提取方法中测试仪器昂贵、测试步骤繁琐等不足,实现降低成本,快捷且精度高。

著录项

  • 公开/公告号CN108051661B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-05-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN201711073843.4

  • 发明设计人 苏东林;徐辉;朱凯翔;

    申请日2017-11-05

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2022-08-23 10:58:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-19

    授权

    授权

  • 2018-06-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/00 申请日:20171105

    实质审查的生效

  • 2018-05-18

    公开

    公开

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