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一种基于多帧处理的内部杂散辐射非均匀性校正方法

摘要

本发明公开的一种基于多帧处理的内部杂散辐射非均匀性校正方法,属于红外成像技术领域。本发明采用与入射辐射值相关的一点非均匀性校正模型,将空域梯度高通滤波结果作为校正参考源,利用最小均方差算法逐帧计算每一帧图像的校正偏置值的梯度值;为求取每帧图像的校正偏置值,使用多项式模型建立偏置值模型,根据校正偏置值的梯度值拟合出多项式模型中的参数;重复上述过程迭代求解校正偏置值,并将当前校正偏置值作为下一帧图像的一点校正偏置参数;对每一帧图像进行校正处理,随着时间递进,非均匀性校正后输出的红外成像质量逐渐提高。本发明能够对红外成像系统中空域低频噪声进行校正,具有去除低频非均匀性噪声更彻底,鲁棒性更强优点。

著录项

  • 公开/公告号CN109813442B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-05-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京理工大学;

    申请/专利号CN201910235532.6

  • 申请日2019-03-27

  • 分类号

  • 代理机构北京理工正阳知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人邬晓楠

  • 地址 100081 北京市海淀区中关村南大街5号

  • 入库时间 2022-08-23 10:58:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-12

    授权

    授权

  • 2019-06-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J5/00 申请日:20190327

    实质审查的生效

  • 2019-05-28

    公开

    公开

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