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用于光学邻近校正模型的校准数据收集方法和系统

摘要

本发明公开了一种用于光学邻近校正模型的校准数据收集方法和系统。根据本发明一个方面的校准数据收集方法包括从起始块开始,逐块扫描晶片上的所有块以形成每个块的扫描图像;将全部块的扫描图像缝合成缝合图像;将晶片的布局数据映射到所述缝合图像上;以及测量所述缝合图像上预选位置的图像以获得校准数据。通过使用本方法,使得能够自动执行光学邻近校正模型的校准数据收集,而无需“点到点”的人工复本创建,实现了完全的数据质量置信度以及数据的可重复性,从而提高了效率、时间和成本。

著录项

  • 公开/公告号CN104423142B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-05-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201310371044.0

  • 发明设计人 蔡博修;

    申请日2013-08-22

  • 分类号

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人鲍进

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江路18号

  • 入库时间 2022-08-23 10:57:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-05

    授权

    授权

  • 2015-04-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F1/36 申请日:20130822

    实质审查的生效

  • 2015-04-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F 1/36 申请日:20130822

    实质审查的生效

  • 2015-03-18

    公开

    公开

  • 2015-03-18

    公开

    公开

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