首页> 中国专利> 基于一维光子晶体耦合微腔的光学生物传感器制备方法

基于一维光子晶体耦合微腔的光学生物传感器制备方法

摘要

本发明公开了一种基于一维光子晶体耦合微腔的光学生物传感器制备方法,包括以下步骤:S1、清洗SOI样品;S2、将SOI样品放置在在170~200℃温度的恒温箱中烘2~5min;S3、采用旋涂的方式在样品上涂覆光刻胶;S4、将样品放置在在170~200℃温度的恒温箱中烘10~15min;S5、对样品进行电子束曝光,曝光图形为一维光子晶体耦合微环谐振腔结构;S6、对曝光处理后的样品依次进行显影、定影操作;S7、采用ICP对样品进行刻蚀操作;S8、对样品采用Piranha溶液清洗后,使用DI水冲洗,再采用HF溶液清洗,最后用DI水冲洗。本发明的制备方法制作的光学生物传感器具有灵敏度高、探测极限小、易于集成等特性,对设备要求简单,工艺上容易实现,适合大量生产。

著录项

  • 公开/公告号CN108288580B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201710873280.0

  • 申请日2017-09-25

  • 分类号

  • 代理机构成都宏顺专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人周永宏

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2022-08-23 10:56:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-21

    授权

    授权

  • 2018-08-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/027 申请日:20170925

    实质审查的生效

  • 2018-08-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/027 申请日:20170925

    实质审查的生效

  • 2018-07-17

    公开

    公开

  • 2018-07-17

    公开

    公开

  • 2018-07-17

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号