首页> 中国专利> 使用宽带反射测定法的工艺终点检测方法

使用宽带反射测定法的工艺终点检测方法

摘要

一种在图样化衬底的处理过程中确定感兴趣的参数的方法,该方法包括:获得测量的净反射光谱,该反射光谱通过用具有宽带光谱的光束照射图样化衬底的至少一部分产生;计算建模的净反射光谱,作为构成图样化衬底的部分的不同区域的反射系数的加权非相干和;以及,确定一组参数,该组参数提供在测量的净反射光谱和建模的净反射光谱之间的紧密匹配。对于在选择的转换波长以下的波长,第一光学模型用于计算每个区域的反射率,作为对应于构成该区域的横向不同区的薄膜叠层的反射场。对于在选择的转换波长以上的波长,基于有效介质近似的第二光学模型用于计算每个区域的反射率。

著录项

  • 公开/公告号CN100370221C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2008-02-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 朗姆研究公司;

    申请/专利号CN03819426.0

  • 发明设计人 维贾雅库马尔·C·韦努戈帕尔;

    申请日2003-08-12

  • 分类号G01B11/06(20060101);H01L21/66(20060101);

  • 代理机构11240 北京康信知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人余刚

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 09:00:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2008-02-20

    授权

    授权

  • 2005-11-23

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-09-28

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号