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使用宽带反射测定法的工艺终点检测方法

摘要

提供了一种使用宽带反射测定法的工艺终点检测方法,用于在图样化衬底的加工过程中确定图样化衬底的一部分中的结构的垂直尺寸,该方法包括:获得测量的净反射光谱,测量的净反射光谱由具有宽带光谱的光束至少照射图样化衬底的一部分产生;计算作为不同区域的反射率的加权非相干和的建模的净反射光谱,不同区域构成图样化衬底的一部分;对于宽带光谱中小于所选择的转换波长的波长,使用第一光学模型计算每个区域的反射率,将反射率作为薄膜叠层的反射场的加权相干和,薄膜叠层对应于构成区域的横向不同区;确定用于提供测量的净反射光谱和建模的净反射光谱之间的紧密匹配的一组参数;以及从一组参数提取图样化衬底的一部分中的结构的垂直尺寸。

著录项

  • 公开/公告号CN100595899C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2010-03-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 朗姆研究公司;

    申请/专利号CN200810000091.3

  • 发明设计人 维贾雅库马尔·C·韦努戈帕尔;

    申请日2003-08-12

  • 分类号H01L21/66(20060101);G01B11/06(20060101);

  • 代理机构11240 北京康信知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人余刚;尚志峰

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 09:04:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-03-24

    授权

    授权

  • 2008-09-10

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-07-16

    公开

    公开

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