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使用非易失性铁电体存储器的测试模式控制装置

摘要

使用非易失性铁电体存储器的测试模式控制装置,在没有特别处理的软件系统中,通过改变为存储单元测试而调节的基准电压和计时,能够对存储单元阵列特性进行精确测试。在实施例中,通过使用非易失性铁电体存储器,对测试模式和数据引线分配进行了编程,并且根据所编制的编码,在软件系统中,调节地址、控制信号和数据引线分配。结果,不需要特别处理,就可精确地测试单元阵列的特性。

著录项

  • 公开/公告号CN100355052C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2007-12-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 海力士半导体有限公司;

    申请/专利号CN200310114741.4

  • 发明设计人 姜熙福;

    申请日2003-12-15

  • 分类号

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人邸万奎

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2022-08-23 09:00:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-02-04

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/66 授权公告日:20071212 终止日期:20131215 申请日:20031215

    专利权的终止

  • 2007-12-12

    授权

    授权

  • 2005-12-21

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-08-04

    公开

    公开

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