公开/公告号CN100355052C
专利类型发明授权
公开/公告日2007-12-12
原文格式PDF
申请/专利权人 海力士半导体有限公司;
申请/专利号CN200310114741.4
发明设计人 姜熙福;
申请日2003-12-15
分类号
代理机构北京市柳沈律师事务所;
代理人邸万奎
地址 韩国京畿道
入库时间 2022-08-23 09:00:15
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2015-02-04
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/66 授权公告日:20071212 终止日期:20131215 申请日:20031215
专利权的终止
2007-12-12
授权
授权
2005-12-21
实质审查的生效
实质审查的生效
2004-08-04
公开
公开
机译: 测试非易失性存储器涉及产生测试模式,使用测试模式对存储器进行写访问,获取测试结果的读访问以及与测试模式进行比较以达成协议
机译: 铁电体和铁电体存储器以及使用该铁电体和铁电体存储器的铁电体存储装置通过电介质的图案形成而形成于电极上。
机译: 使用非易失性铁电存储器的测试模式控制装置