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光学超晶格极化质量测量方法及装置

摘要

本申请公开了一种光学超晶格极化质量测量方法,包括如下步骤:用激光器发射一束激光照射超晶格样品,获得该束激光的多级衍射图样;测量所述多级衍射图样的衍射光强,并获得相应的衍射级次;基于所述衍射级次及该衍射级次对应的衍射光强,得出所述超晶格样品在照射位置的占空比;基于所述占空比,得出反映所述照射位置的极化质量的有效非线性系数。该测量方法的设计能够使得极化质量的测量变得简单、测量装置不繁琐、测量精度高。此外,本申请还公开了一种光学超晶格极化质量测量装置。

著录项

  • 公开/公告号CN110702641B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-03-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201911253977.3

  • 发明设计人 尹志军;吴冰;倪荣萍;许志城;

    申请日2019-12-10

  • 分类号

  • 代理机构北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人逯长明

  • 地址 210000 江苏省南京市江北新区研创园团结路99号孵鹰大厦690室

  • 入库时间 2022-08-23 10:53:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-27

    授权

    授权

  • 2020-02-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/47 申请日:20191210

    实质审查的生效

  • 2020-02-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/47 申请日:20191210

    实质审查的生效

  • 2020-01-17

    公开

    公开

  • 2020-01-17

    公开

    公开

  • 2020-01-17

    公开

    公开

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