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可提高测试精度的薄膜电弱点测试仪

摘要

本发明可提高测试精度的薄膜电弱点测试仪,包括机架(1),固设在机架(1)上的连杆(2),设置在连杆(2)两侧的可转动的绝缘块(3),固设在绝缘块(3)一侧的绝缘板(4)以及固设在绝缘板(4)上的导电装置。本发明导电橡胶板不易变型,且可转动与膜面充分柔性接触,不会导致薄膜部分区间施加不到电压,测试精度提高。

著录项

  • 公开/公告号CN108226581B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-03-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 钱立文;

    申请/专利号CN201810111096.7

  • 发明设计人 钱锦绣;

    申请日2018-02-05

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 244000 安徽省铜陵市铜官区官塘新村26栋202室

  • 入库时间 2022-08-23 10:52:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-10

    授权

    授权

  • 2018-07-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R1/04 申请日:20180205

    实质审查的生效

  • 2018-07-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/04 申请日:20180205

    实质审查的生效

  • 2018-06-29

    公开

    公开

  • 2018-06-29

    公开

    公开

  • 2018-06-29

    公开

    公开

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