首页> 中国专利> 基于残缺P3近似正向模型测量混浊介质光学参数的方法

基于残缺P3近似正向模型测量混浊介质光学参数的方法

摘要

本发明公开了一种基于残缺P3近似正向模型测量混浊介质光学参数的方法,主要包括:建立辐射率的残缺P3近似正向模型,发展基于残缺P3近似正向模型光学参数反构的解析算法,从而得到被测混浊介质的吸收系数和约化散射系数。所发展的残缺P3与传统P3相比表达式更加简洁,与扩散近似相比更加准确描述光在大吸收或小散射组织中的传播。所发展的基于残缺P3解析反构算法,与传统的基于P3近似的拟合算法及基于扩散近似的解析反构算法相比,能够更加准确地反构出大吸收或小散射混浊介质的光学参数。其中的解析反构算法求解速度快有望应用于的光学参数在线监测。本发明所提出的测量方法不需要测量实验系统所用的光源强度,有利于实际应用。

著录项

  • 公开/公告号CN107411716B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-03-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学;

    申请/专利号CN201710755759.4

  • 发明设计人 赵会娟;刘玲玲;万文博;高峰;

    申请日2017-08-29

  • 分类号

  • 代理机构天津市北洋有限责任专利代理事务所;

  • 代理人李丽萍

  • 地址 300072 天津市南开区卫津路92号

  • 入库时间 2022-08-23 10:51:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-06

    授权

    授权

  • 2017-12-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B5/00 申请日:20170829

    实质审查的生效

  • 2017-12-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B 5/00 申请日:20170829

    实质审查的生效

  • 2017-12-01

    公开

    公开

  • 2017-12-01

    公开

    公开

  • 2017-12-01

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号