首页> 中国专利> 背投影式光电探测清纱装置及其紫外增强型硅光电二极管

背投影式光电探测清纱装置及其紫外增强型硅光电二极管

摘要

本发明涉及背投影式光电探测清纱装置及其紫外增强型硅光电二极管。发光管的前端与探测器的光敏面齐平设置使得发光管发出的光不会直接进入探测器中,而是会经滤光片过滤并照射待检测纱线后再由待检测纱线反射或是由反射镜反射回探测器的光敏面,有利于减小杂光信号对检测结果的影响,提高采集到信号的信噪比。而特殊的紫外增强型硅光电二极管使得其能在较低的波段开始响应,且在接收到一定功率光线照射后能产生的光电流强度较大,所以本发明具有极大的光波捕获率及光电流转化率,因而可以仅使用光电式检测法检测出待检测纱线中的同质异色纤维和同色异质纤维。

著录项

  • 公开/公告号CN107607552B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-02-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海科华光电技术研究所;

    申请/专利号CN201710800255.X

  • 发明设计人 彭和建;吴作良;徐一凡;

    申请日2017-09-07

  • 分类号

  • 代理机构北京东方汇众知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人张淑贤

  • 地址 200000 上海市长宁区天山一村

  • 入库时间 2022-08-23 10:51:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-02-21

    授权

    授权

  • 2018-02-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/95 申请日:20170907

    实质审查的生效

  • 2018-02-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/95 申请日:20170907

    实质审查的生效

  • 2018-01-19

    公开

    公开

  • 2018-01-19

    公开

    公开

  • 2018-01-19

    公开

    公开

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