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集成有效元与光学参考元的像素以及微测辐射热计

摘要

本发明涉及红外探测,提供一种集成有效元与光学参考元的像素,包括衬底以及有效元,有效元包括第一桥面层、第一桥腿层以及第一锚柱,还包括光学参考元以及反射层,光学参考元包括第二桥面层、第二桥腿层以及第二锚柱,第二桥面层位于第一桥面层与衬底之间,且反射层位于第二桥面层与第一桥面层之间;还提供一种微测辐射热计,包括上述像素。本发明中,在有效元与衬底之间增设有光学参考元,光学参考元镜像有效元电流对探测器的温度且能够对该温度时时校正,保证有效元处于适宜温度下工作,且可以保证电学接触读取信号不被电路中的导线长短而影响,减小误差,另外这种结构的像素摒弃了对TEC的使用,进而使得微测辐射热计的制备成本大大降低。

著录项

  • 公开/公告号CN106595876B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-02-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉高芯科技有限公司;

    申请/专利号CN201611082289.1

  • 申请日2016-11-30

  • 分类号G01J5/06(20060101);

  • 代理机构11228 北京汇泽知识产权代理有限公司;

  • 代理人程殿军;张瑾

  • 地址 430205 湖北省武汉市东湖开发区黄龙山南路6号2号楼

  • 入库时间 2022-08-23 10:51:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-02-28

    授权

    授权

  • 2017-05-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J5/06 申请日:20161130

    实质审查的生效

  • 2017-05-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 5/06 申请日:20161130

    实质审查的生效

  • 2017-04-26

    公开

    公开

  • 2017-04-26

    公开

    公开

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