首页> 中国专利> 一种表面陷阱能级分布的测量装置及光电导分析方法

一种表面陷阱能级分布的测量装置及光电导分析方法

摘要

本发明属于陷阱能级分布测量领域,提供一种表面陷阱能级分布测试装置及光电导分析方法,用以实现样品表面陷阱能级分布测量。本发明测试装置,包括真空恒温腔体、真空泵、温度控制系统、固体激光器、数字电压电流源表及计算机;通过数字电压电流源表在待测样品两端施加一个恒定的预设电压,测量得到暗电流;然后,开始光电导测试,测量得到光电衰减曲线;最后根据光电导衰减曲线计算样品表面陷阱能级分布。本发明中恒温腔体提供一个黑暗、恒温的真空环境,使整个测量过程中有效避免温度、气氛和外界光源的干扰,大大提高测量精度;同时采用亚禁带激光激发得到的光电导曲线,能够准确反应禁带内缺陷分布,排除本征缺陷的影响。

著录项

  • 公开/公告号CN108196178B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-02-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201711470872.4

  • 发明设计人 曾慧中;何鹏;何月;周瑶;张万里;

    申请日2017-12-28

  • 分类号G01R31/26(20140101);

  • 代理机构51203 电子科技大学专利中心;

  • 代理人甘茂

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2022-08-23 10:50:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-02-14

    授权

    授权

  • 2018-07-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/26 申请日:20171228

    实质审查的生效

  • 2018-07-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20171228

    实质审查的生效

  • 2018-06-22

    公开

    公开

  • 2018-06-22

    公开

    公开

  • 2018-06-22

    公开

    公开

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