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基于单缝衍射原理利用CCD测量微小位移的方法

摘要

一种基于单缝衍射原理利用CCD测量微小位移的方法,通过两条平行单缝,一条为定标狭缝(缝宽已知),另一条为测量狭缝(缝宽可变),两条单缝分别衍射,两条狭缝得到的不同衍射图像会由凸透镜汇聚到透镜的焦平面上,然后由CCD器件进行采集。图像传输到软件中进行下一步的分析计算,最后计算出缝宽的变换,也就是微小位移量。操作方便,实现自动化测量,同时利用衍射系统测量位移,其测量精度高,在测量中实现了自动化、智能化、高精度的测量微小位移量。

著录项

  • 公开/公告号CN107192337B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-02-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 济南大学;

    申请/专利号CN201710417296.0

  • 发明设计人 黄继阳;赵相斌;尹秀;

    申请日2017-06-06

  • 分类号G01B11/02(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 250022 山东省济南市市中区南辛庄西路336号

  • 入库时间 2022-08-23 10:49:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-02-07

    授权

    授权

  • 2017-10-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/02 申请日:20170606

    实质审查的生效

  • 2017-10-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/02 申请日:20170606

    实质审查的生效

  • 2017-09-22

    公开

    公开

  • 2017-09-22

    公开

    公开

  • 2017-09-22

    公开

    公开

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