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红外成像导引头抗干扰性能评估方法及系统

摘要

本发明提供了一种红外成像导引头抗干扰性能评估方法及系统,包括:对每个核函数训练单核SVR,得到输入抗干扰性能指标值和输出综合性能评估值之间的映射关系;获取训练样本,并初始化每个训练样本的权值,初始化回归器F(x)=0;对每个单核SVR计算回归误差,并选择回归误差最小的最优SVR;计算最优学习器H

著录项

  • 公开/公告号CN109299555B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-02-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海机电工程研究所;

    申请/专利号CN201811162653.4

  • 申请日2018-09-30

  • 分类号

  • 代理机构上海汉声知识产权代理有限公司;

  • 代理人庄文莉

  • 地址 201100 上海市闵行区元江路3888号(八部)

  • 入库时间 2022-08-23 10:48:59

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-02-04

    授权

    授权

  • 2019-03-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20180930

    实质审查的生效

  • 2019-03-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 17/50 申请日:20180930

    实质审查的生效

  • 2019-02-01

    公开

    公开

  • 2019-02-01

    公开

    公开

  • 2019-02-01

    公开

    公开

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