一种面板缺陷分析方法、装置及存储介质

摘要

本发明实施例公开了一种面板缺陷分析方法、装置及存储介质，本发明实施例可以获取待分析的面板对应的面板图像；对所述面板图像中的缺陷进行检测，得到缺陷的位置和类型；按照预设策略对所述面板图像进行电路区域分割，得到包括多个电路区域的电路分割图像；根据所述缺陷的位置从所述电路分割图像中，截取所述缺陷所在的电路区域，得到待分析图像；通过机器学习模型并基于所述待分析图像和所述缺陷的类型，分析所述缺陷对所述面板中电路造成的影响，得到缺陷分析结果。该方案实现了自动对面板缺陷进行检测及分析，而无需工人参与，不仅减少了人工的工作量，而且提高了对面板进行缺陷分析的准确性及效率。