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一种下落粒子的直径测量方法及激光雨滴谱仪

摘要

本发明提供了一种下落粒子的直径测量方法及激光雨滴谱仪,该方法包括;激光雨滴谱仪在测量下落粒子的直径时,激光接收端会检测接收的平行激光的激光强度,当没有下落粒子遮挡平行激光时,根据当前环境的透射率设置N,并且根据检测到的平行激光的N个激光强度采样值计算出基准激光强度,从而根据基准激光强度计算下落粒子的直径。可见,在计算下落粒子的直径时,能够根据N个激光强度采样值动态地计算基准激光强度,并且N的个数根据当前环境的透射率进行设置,即实现了根据环境因素适应性地调整激光基准强度,减少了环境干扰对测量误差的影响,提高了测量准确度。

著录项

  • 公开/公告号CN108225198B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-01-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京敏视达雷达有限公司;

    申请/专利号CN201810054826.4

  • 发明设计人 张垚;刘强;李佳;

    申请日2018-01-19

  • 分类号

  • 代理机构北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人王宝筠

  • 地址 100094 北京市海淀区丰秀中路3号院2号楼

  • 入库时间 2022-08-23 10:47:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-03

    授权

    授权

  • 2018-07-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/10 申请日:20180119

    实质审查的生效

  • 2018-07-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/10 申请日:20180119

    实质审查的生效

  • 2018-06-29

    公开

    公开

  • 2018-06-29

    公开

    公开

  • 2018-06-29

    公开

    公开

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